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半导体晶圆缺陷检测设备3D图纸-缺陷检测和3D尺寸检测
首页 >半导体设备图纸 >晶圆量测:量测-检测-光学 2026-10-21 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持![获取免费下载]上传图纸即可免费下载哦!0
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图纸预览图
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图纸描述

国内全新架构设计,可检测外观缺陷和3D尺寸等,兼容裸晶圆,框架晶圆!

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图纸信息
图纸ID :770
文件大小:66.04K
所需金币:19999
图纸参数:可编辑,不包含特征参数
图纸格式:STEP
软件版本:2020
作者
用户XY0cKu
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