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半导体晶圆检测设备3D图纸模型!2025款日本工程师最新设计,对标KLA&CAMTEK
首页 >半导体设备图纸 >晶圆量测:量测-检测-光学 2026-10-21 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持![获取免费下载]上传图纸即可免费下载哦!0
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图纸预览图
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图纸描述

兼容裸晶圆,带框架晶圆,方形框架等芯片内部裂纹,颗粒,划痕,切割缺陷等!采用明暗场系统,多倍率,高功率激光光源,stage采用兼容式设计,大理石架构搭配减震器!业界成熟技术!

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图纸信息
图纸ID :769
文件大小:66.04K
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图纸参数:可编辑,包含特征参数
图纸格式:sldprt
软件版本:2025
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用户XY0cKu
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