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静电卡盘ESC凸点技术资料
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资料描述

大量专利和技术资料,对研究ESC凸点的制造技术有一定帮助

ESC 凸点(Bump/Mesa)是静电卡盘表面微米级支撑阵列,核心作用是减小接触面积、形成氦气冷却通道、增强吸附均匀性、降低颗粒与热应力,是先进制程(7nm/5nm)ESC 的标配功能结构。

一、核心作用

  • 支撑 + 间隙:晶圆只接触凸点顶端,接触面积仅5%–20%,减少摩擦与颗粒。

  • 背吹 He 通道:凸点间凹槽形成均匀气腔,氦气高效导热,控温均匀性 ±0.5℃

  • 电场优化:凸点尖端电场集中,提升 JR 型吸附力、降低工作电压(500–800V)

  • 热应力缓冲:减少晶圆与陶瓷面直接接触,降低翘曲 / 崩边风险,适配超薄晶圆(≤50μm)。

二、关键参数(量产标准)

1. 尺寸(微米级)

  • 高度:3–20 μm(常用 4–10 μm)

  • 直径:50–200 μm(圆形为主)

  • 间距:0.5–2 mm(矩阵 / 同心圆分布)

  • 面密度:50–200 点 /cm²

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资料信息
资料ID :266
文件大小:30.85M
资料格式:pdf
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