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晶圆制造:光刻 显影 刻蚀 热处理等 晶圆制造：镀膜 PVD CVD等 晶圆处理：清洗 研磨 减薄 等 晶圆量测：量测 检测 光学等 晶圆切割：划片 激光等 先进封装：键合类DB WB TCB HB等 核心部件技术：平台 chuck 运控等 封测探针：测试 编带 分选等 高端装备：精机 3C SMT等 报告-工艺：半导体标准 前沿市场等 半导体其他资料
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晶圆制造:光刻 显影 刻蚀 热处理等 晶圆制造：镀膜 PVD CVD等 晶圆处理：清洗 研磨 减薄 等 晶圆量测：量测 检测 光学等 晶圆切割：划片 激光等 先进封装：键合类DB WB TCB HB等 核心部件技术：平台 chuck 运控等 封测探针：测试 编带 分选等 高端装备：精机 3C SMT等 报告-工艺：半导体标准 前沿市场等 半导体其他资料
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首页 >半导体设备资料 >报告-工艺：半导体标准 前沿市场等 2024-01-31 报告错误错误问题可与客服联系，感谢您的支持！ [获取免费下载] 觉得本站不错记得分享给好友哦！ 1
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图纸预览图
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资料描述
这是来自因特尔的14纳米技术资料!对于半导体工程师可以参考下！
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资料信息
资料ID ：42
文件大小：11M
资料格式：pdf
相关说明：这是来自因特尔的14纳米技术资料
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