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Applied Endura EnCoRe HT PVD Ta(N)腔室手册
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资料描述

完整手册全称Applied Endura® EnCoRe™3 HT PVD Ta(N) Chamber Manual

  1. 文件属性:AMAT 内部机密(Confidential)原厂设备操作 / 安装 / 维护手册,PDF 大小 9.99MB

  2. 适配平台:Endura 300mm 集群 PVD 平台,专用 Ta/TaN 阻挡层高温溅射腔体


  3. 1. 产品定位

  4. EnCoRe3 HT = High Temperature 高温型自电离等离子 SIP 磁控溅射腔体,专门用于铜互连工艺Ta/TaN 阻挡层薄膜沉积,配套 Cu 种子层腔体组成 CuBS 铜阻挡 - 种子完整工艺模组,适配 14nm/7nm 先进逻辑、DRAM 量产。

  5. HT:内置高温高精度晶圆加热器,衬底工艺温度区间大幅拓宽;

  6. EnCoRe 第三代:迭代自 EnCoRe/EnCoRe II,优化磁体运动、等离子电离效率、台阶覆盖能力。

  7. 2. 核心 SIP 自电离 PVD 原理

  8. 不靠外置 RF 等离子源,仅依靠 Ta 靶直流溅射产生高密度 Ta 离子自轰击靶材:

  9. 电离度远高于常规直流 PVD,深孔 / 高深宽比通孔侧壁、底部台阶覆盖(Bottom Coverage)显著提升;

  10. TaN 薄膜通过通入 N₂反应溅射原位生成,薄膜致密、电阻率可控、Cu 扩散阻挡能力极强;

  11. HT 高温基座可调控薄膜应力、晶粒取向,适配 low-k 低 k 介质互连工艺窗口。


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资料信息
资料ID :291
文件大小:8.94M
资料格式:pdf
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