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超薄晶圆激光划片、晶圆级锡膏印刷凸点、高速3D凸点检测开发技术
首页 >半导体设备资料 >晶圆切割:划片-切割 2024-01-31 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持! [获取免费下载] 觉得本站不错记得分享给好友哦! 0
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资料描述

来自高丽半导体系统(KOSES)公司内部技术研发资料!252页!大量核心技术展示!各种数据和详细研发!

二、核心内容:

1. 超薄晶圆激光划片系统:50–80μm 超薄硅晶圆、Low‑k、带 DAF 膜的非接触激光切割

  • 技术路线紫外 / 飞秒脉冲激光 + 专用光学系统、Grooving(开槽)+ Full Cut(全切) 复合工艺、Edge Grooving 防边缘裂纹、Swing Beam 减热影响

    2. 晶圆级丝网印刷凸点系统技术:锡膏印刷 + 锡球吸附印刷双路线、高精度金属 Mask、真空吸附 + 振动填球!能力:最小凸点80μm,Pitch≤150μm位置精度 ±3μm兼容 200mm/300mm 晶圆

  • 配套模块:Mask 清洗 MCM、锡球吸附 SAM、锡膏点胶 SPD

3. 高速高精度 3D 凸点检测系统:白光干涉 WSI + 数字全息 DHM(单帧 3D)双波长、双相机同步拍摄、GPU/CUDA 并行加速

  • 性能2D 分辨率 2.5μm,速度 30wph 3D 分辨率0.1μm,速度 15wph 支持 300mm 晶圆全检

  1. 3D 检测单帧数字全息 DHM,抗振动、速度提升数倍

  • 印刷凸点80μm 级微凸点稳定成型

  • 共性基础高精度大理石平台、主动隔振、直线电机、纳米级运动控制、视觉对准

四、性能

  • 激光划片:支持50μm 超薄晶圆,切速≥50mm/s,崩边 < 25μm

  • 凸点印刷:最小 80μm,精度 ±3μm

  • 3D 检测:3D 分辨率 0.1μm,速度 15wph

  • 设备精度:运动精度 ±2μm 内,重复精度 ±1μm

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资料信息
资料ID :261
文件大小:16.08M
资料格式:pdf
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