客服
利用 CVD 法制造超高精度 SiC合成装置-85页
首页 >半导体设备资料 >晶圆制造:镀膜-PVD-CVD 2024-01-31 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持! [上传图纸即可免费下载] 觉得本站不错记得分享给好友哦! 0
41
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
图纸预览图
资料描述


随着半导体、LED、太阳能(硅材料)等先进主导产业的规模化发展,以及高温和腐蚀环境的应用需求,具有优异耐腐蚀性、耐热冲击性能和高纯度(5N 等级)的碳化硅材料及其涂层技术需求正在急剧增加  。

核心零部件以及专用的 CVD 涂层设备大多依赖进口,来自国外(如美国、日本等国家和地区),因此加快国产化进程至关重要  。

主要技术内容:


    • 建立能够应对各种工艺条件的 SiC 用 CVD 合成装置试验工厂,通过热流体动力学分析以及气相沉积模型的研究,实现系统优化,并开发出适合大规模生产的模型。


  1. 为 SiC 化学气相沉积工艺设计的试验工厂系统设计与制造


  2. 利用商用软件进行热流与气体流动分析,并建立气相沉积模型  。


  3. 针对温度均匀性、涂层厚度、沉积厚度均匀性等关键性能指标,开发了实际生产过程中的评估模型。


  • 研究了沉积温度及反应压力变化对微结构(如佩블态、佩希特态等)与沉积速率之间关系的影响  。


  • 对大面积的 SiC 盘状材料以及 C/SiC 复合材料进行了涂层测试。结果表明,通过纯 SiC 沉积工艺以及热冲击处理,可以制备出稳定的涂层。在大面积涂层的情况下,厚度偏差控制在pm6\% 以内(目标为pm10\%以内)。


  • 分析与设备设计:利用 CFD-ACE+等软件进行热/气体流动分析,以预测腔体内的温度分布和气体流动情况。同时,我们还制造并安装了包含 MTS 原料供应系统、排放口后端的捕集系统以及废气中和系统在内的试验装置硬件设备。


  • 温度均匀性评估:在作业区内的 15 个地点进行了 1300℃温度均匀性评估。结果显示,中心部位的温度偏差在 2°C 以内,边缘处的偏差在5°C以内。因此,整个作业区的温度均匀性满足目标值 7°C 的要求,偏差为  。

  • SiC 表面涂层工艺评估:

  • 研究了沉积温度及反应压力变化对微结构(如佩블态、佩希特态等)与沉积速率之间关系的影响  。


  • 对大面积的 SiC 盘状材料以及 C/SiC 复合材料进行了涂层测试。结果表明,通过纯SiC沉积工艺以及热冲击处理,可以制备出稳定的涂层。在大面积涂层的情况下,厚度偏差控制在6%$以内(目标为 10%以内)。