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TEL晶圆涂胶显影机LITHIUS Pro Z培训资料全套53个文件
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资料描述

TEL CLEAN TRACK LITHIUS Pro Z 是日本东京电子(Tokyo Electron Limited, TEL)推出的旗舰级 300mm(12英寸)半导体晶圆涂胶显影机(Coater/Developer)。作为全球半导体光刻配套设备领域的标杆产品,它在先进逻辑芯片和存储芯片制造中扮演着至关重要的角色。

以下是关于 LITHIUS Pro Z 的核心技术特点与优势概述:

1. 工艺节点与应用场景

  • 先进工艺支持: 专为 10nm 及更先进的工艺节点(含 7nm、5nm、3nm 及更高级别) 设计。

  • 光刻技术匹配: 完美适配 EUV(极紫外)光刻 以及 ArF浸没式(Immersion)光刻 系统,支持多重图形曝光技术(如 Self-Aligned Double/Multiple Patterning, SADP/SMDP)。

2. 核心性能优势

  • 卓越的缺陷控制(Defectivity): 引入了创新的缺陷控制技术,相比前代产品(如 LITHIUS Pro / Pro V),可显着降低光刻胶涂布及处理过程中产生的缺陷率(官方数据表明可减少50%以上的相关缺陷),大幅提升良率。

  • 极致的生产效率(Productivity): 具备极高的晶圆单小时产出率(Throughput),优化了机械臂传输系统(Low-particle wafer transfer)与内部模块布局,最大限度减少晶圆在传输过程中的等待和损耗。

  • 优化拥有成本(CoO): 通过改进的化学品喷涂与循环系统,在保证工艺精度的同时,显著降低了光刻胶、显影液等昂贵化学品的单片消耗量。

3. 技术与结构特点

  • 模块化与灵活性: 支持高度灵活的配置方案(如匀胶单元 COT、显影单元 DEV、抗反射层涂布 BCT、以及各类热处理模块 Thermal Block 等),能够根据不同的代工厂需求进行定制和未来工艺扩展。

  • 集成量测技术(Integrated Metrology): 可无缝集成在线量测/检测装置,实现高级过程控制(APC),实时监测并反馈关键尺寸(CD)及膜厚均匀性。

  • 衍生版本: 该系列还包含针对浸润式光刻优化的 Pro Z-i 等版本,在精准对准、过程控制及抗反射层/显影液协同上具备更强表现。

在当前的全球半导体制造供应链中,TEL 的涂胶显影机(特别是 LITHIUS 系列)在市场中占据绝对领先地位,几乎是各大先进晶圆厂搭配主流光刻机(如 ASML 的扫描机)不可或缺的核心配套设备