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首页 >半导体设备资料 >晶圆处理:清洗-研磨-减薄 2024-01-31 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持! [获取免费下载] 觉得本站不错记得分享给好友哦! 1
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资料描述

外企内部研发部研发报告,十分的详细!绝对有价值!对了解减薄的设备十分有意义!

半导体封装 / 后道核心精密设备,对已完成正面电路制程的硅 / 碳化硅晶圆背面做机械磨削减薄,将原厂 725–775μm 标准晶圆减薄至 20–100μm 超薄厚度,是划片、键合、3D 堆叠封装前必备工序设备。

三、核心工作原理(In-Feed 进给磨削)

  1. 晶圆正面贴保护膜,真空吸附在多孔陶瓷承片台并自转;

  2. 空气静压主轴带动杯型金刚石砂轮高速反向旋转;

  3. 砂轮低速微量进给,分三段阶梯磨削:

  • 粗磨:大粒度砂轮,快速去除 50–150μm 余量,效率高;

  • 精磨:细粒度砂轮,控制最终厚度、降低表面损伤层;

  • 抛光(选配):纳米级平整,减小晶圆应力、提升散热界面质量。

英文中文行业叫法
Back Grinding背磨、背面减薄
BG Process背磨工序
TTV (Total Thickness Variation)晶圆总厚度差(核心精度指标)
In-feed Grinding切入式磨削(主流结构)
Diamond Wheel金刚石砂轮
Protective Tape正面保护贴膜