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东京精密晶圆减薄抛光设备资料
首页 >半导体设备资料 >晶圆处理:清洗-研磨-减薄 2024-01-31 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持! [获取免费下载] 觉得本站不错记得分享给好友哦! 2
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图纸预览图
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资料描述

全自动双 / 三轴高刚性晶圆背面减薄研磨机,面向8/12 英寸(200/300mm)硅、SiC、蓝宝石、GaN等硬脆半导体基板,是全球先进封装、功率半导体量产主流高端减薄设备,主打极低损伤、纳米级镜面、超高厚度均匀性。后缀释义:

  • HRG:High Rigid Grinder 高刚性研磨平台

  • 3000:适配 12 英寸 300mm 晶圆

  • RM:集成贴膜模组 RM3000-HRG一体化机台

  • X:三轴粗 / 精 / 超精磨复合工艺

二、核心硬件规格

主机 HRG3000X 研磨单元

参数项技术指标
适配晶圆φ8~12 英寸(200/300mm)
整机尺寸W1750 × D3525 × H1978 mm
主机重量11000 kg
磨轮规格φ300 mm 金刚石砂轮
磨轮主轴11 kW,最高 3600 rpm
工件主轴650 rpm
极限减薄厚度最低 20 μm
单片总厚度差 TTV≤0.5 μm(自动 TTV 补偿开启)
片间厚度差 WTW±0.5 μm
吸盘定心精度≤0.5 mm;晶圆缺口角度定位≤0.5°

配套 RM3000 贴膜模组(RM 后缀标配)

  • 尺寸:W1500 × D4250 × H1800 mm,重量 1600 kg

  • 最大切割膜卷 φ230 mm,膜宽 430 mm

  • 贴膜、撕膜、晶圆预定位一体化自动上下料

三、核心结构优势(高刚性核心设计)

  1. 三角对称导轨刚性架构加工点位于三角形滑轨中心,进给轴垂直布置在磨削点位上方,磨削负载下整机变形极小,抑制颤振,保证超薄晶圆平面度。

  2. 干式无浆料研磨(Slurry less)仅金刚石砂轮机械研磨,无需化学研磨液,降低污染、简化废水处理,直接实现镜面效果。

  3. 三段式研磨工艺集成同一台设备完成粗磨→精磨→超精镜面磨,三道工序连续自动化:

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    三道研磨损伤层对比

  • 粗磨 #325:去除速率 10 μm/s,损伤层≈8 μm,快速去除厚基材

  • 精磨 #2400:去除速率 3 μm/s,损伤层≈2.7 μm

  • 超精磨 #10000 高目数:去除速率 0.25 μm/s,损伤层仅 0.1 μm,直接镜面,大幅减少后续抛光工序

四、产能与工艺节拍(标准量产条件)

单晶圆完整流程(粗 + 精 + 超精 + 自动搬送)总周期约 102 秒,理论产能:UPH≈35 片 / 小时单段工序耗时:粗磨 82s、精磨 82s、超精磨 82s,各工序自动修整 20s,上下料搬送 85s。

五、适用加工材料与场景

  1. 硅晶圆(逻辑 / 存储 / 功率 IC)3D IC、SiP、Fan-out 先进封装超薄减薄,满足 50μm、20μm 薄片量产。

  2. 第三代半导体硬脆基板SiC 碳化硅、GaN 氮化镓、AlN 氮化铝功率器件晶圆减薄,硬脆材料低裂纹加工。

  3. 光学衬底蓝宝石、玻璃基板背面镜面研磨。