晶圆映射芯片分选机
首页 >半导体设备图纸 >封测探针:测试 编带 分选等 2026-03-03 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持![获取免费下载]分享好友可以免费下载哦!1
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图纸描述

该芯片分选机设备采用全自动流程,晶圆自动上下料,自动拉晶圆,双晶圆台设计,双摆臂同时取放设计!适用于 CMOS 芯片、AR 芯片及其他晶圆图案分选工艺。

实现工艺为根据预先设定的特性将晶圆分为几类。  能够以 +/-15µm 精度实现高达 16,000 DPH 的吞吐量, 支持所有晶圆图格式和 SECS/GEM 采用洁净设计Class 100规格的洁净室环境!

主要功能和参数:

1.配备 HEPA 过滤器和一系列措施,将颗粒物产生量控制在极低水平。
2.支持多种英寸晶圆框架的输入和输出。
3.线性电机驱动的键合头 X/Z 工作台,带音圈电机的拾取和放置力控制,缺失单元检测和自动重新拾取功能,模具角度自动调整。
4.配备 3 个光学系统,用于晶圆台 PR、芯片上视 PR 和分拣台 PR 检测。
5.配备多针顶出系统和可编程顶针高度。
6.配备晶圆条形码阅读器,可自动加载晶圆图,支持晶圆扫描和晶圆图自动参考。

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图纸信息
图纸ID :66
文件大小:600M
所需金币:25
图纸参数:可编辑,不包含特征参数
图纸格式:sldprt、x_t
软件版本:2025
作者
用户XY0cKu
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