半导体立式芯片分选机
首页 >半导体设备图纸 >封测探针:测试 编带 分选等 2026-02-04 报告错误错误问题可与客服联系,感谢您的支持![获取免费下载]分享好友可以免费下载哦!0
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图纸描述

用途在于,依据mapping资料,将黏贴于蓝膜上之元件依指定号分别取出,并黏贴于另一蓝膜上。

面对面立式WAFER工作台机构设计。成熟架构,台湾索特和日本嘉大都是一样的结构!

吸嘴接触高度自动量测及设定。

Frame立式设计,落尘污染最小、取放手臂长度距离最短,高速排列精度高且稳定

入料与出料双侧皆全自动上料与卸除,利于操作员作业。严格Map挑捡法则确保挑拣正确性。

入料端硅片具视觉定位挑拣位置,出料端(料仓端)有视觉功能可计算CPK。

本站也有设备说明书可下载!购买者可加客服微信免费获取!


下载需要1800金币 推广可免费下载
图纸信息
图纸ID :46
文件大小:500M
所需金币:1800
图纸参数:可编辑,不包含特征参数
图纸格式:sldprt、STEP
软件版本:2025
作者
匿名
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